供应GUT-6000A数位IC测试器

            
                
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						中国台湾固纬 GWinstek
																							型号
						GUT-6000A
						   																			
			
        
		    
					
特性：Loop 测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能可量测之 IC 种类**过 1800 种54/74 系列 TTL 及高速 CMOS4000 及 4500 系列 CMOS较大可测 Pin 数 : 28 Pin
规                  格
测试范围
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
55 及 75 系列 TTL
 
量测种类
约1800 种
 
测试电压
5V DC
 
测试时间
高测试速度，平均0.8 秒可完成一个 IC
 使用电源
交流110V/220V +10%, 50/60Hz
 附件
电源线x 1, 操作手册 x 1
 
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤


固纬IC测试仪选型表
机    种  
主要功能或用途
GUT - 6000A
数位IC测试器
GUT - 6600
掌上型数位IC测试器
GUT - 6001
类比IC测试器